掃描電鏡是一種功能強(qiáng)大的分析工具，其利用聚焦得非常細(xì)的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息，通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。SEM掃描電鏡可以看到以下結(jié)構(gòu)：

表面形貌：掃描電鏡可以直接觀察樣品的表面形貌，呈現(xiàn)出三維立體的表面結(jié)構(gòu)。這對于研究材料的表面粗糙度、顆粒大小、形態(tài)等方面的信息非常有用。

元素分析：SEM掃描電鏡通常配備有能譜儀（EDS）等附件，可以對樣品進(jìn)行元素分析。通過分析樣品表面的元素組成，可以了解材料的成分和化學(xué)性質(zhì)。

晶體結(jié)構(gòu)：掃描電鏡可以觀察樣品的晶體結(jié)構(gòu)，通過分析樣品的衍射花樣和晶格條紋等特征，可以確定材料的晶體類型和結(jié)構(gòu)。

涂層厚度：對于金屬、陶瓷等材料的涂層，SEM掃描電鏡可以用來測量涂層的厚度。通過測量不同位置的涂層厚度，可以評估涂層的均勻性和質(zhì)量。

斷裂面分析：當(dāng)材料發(fā)生斷裂時，掃描電鏡可以觀察和分析斷裂面的形貌和結(jié)構(gòu)。通過分析斷裂面的特征，可以了解材料的力學(xué)性能和斷裂機(jī)制。

生物樣品：SEM掃描電鏡也可以用于觀察生物樣品，如細(xì)胞、組織、骨骼等，揭示生物結(jié)構(gòu)和功能。

掃描電鏡具有極高的放大倍數(shù)和分辨率，可達(dá)到納米級別，因此可以觀察到納米顆粒、病毒、細(xì)胞器等精細(xì)結(jié)構(gòu)。SEM掃描電鏡主要由電子槍、電磁透鏡系統(tǒng)、掃描線圈、樣品室和探測器等部分組成，其工作原理是通過電子束與樣品相互作用產(chǎn)生各種信號，這些信號被探測器接收并轉(zhuǎn)換為電信號，再經(jīng)過放大和處理后在顯示器上生成圖像。

總的來說，掃描電鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、納米技術(shù)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，為研究人員提供了解材料、生物、地質(zhì)等領(lǐng)域微觀世界的重要手段。