掃描電鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）和透射電鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）是現(xiàn)代科學(xué)中常用的兩種電子顯微鏡。它們基于不同的原理，具有不同的成像特點(diǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域。

掃描電鏡主要利用電子束的高能定向掃描來(lái)獲取樣品表面的形貌信息。通過電子束與樣品相互作用，產(chǎn)生的反射電子、呈散射狀態(tài)的電子和次級(jí)電子等均可被探測(cè)，從而根據(jù)不同的信號(hào)生成樣品表面形貌的圖像。掃描電鏡的分辨率較高，可達(dá)到亞納米級(jí)別，適用于對(duì)樣品表面形貌的研究和觀察。

透射電鏡則是將電子束穿過樣品，利用其透射性質(zhì)獲取樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息。電子束通過樣品時(shí)，受到樣品內(nèi)部原子和電子的相互散射和吸收作用，通過探測(cè)和記錄這些散射電子的信息，可還原出樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，包括晶體結(jié)構(gòu)、原子排列等。透射電鏡的分辨率更高，可達(dá)到亞埃級(jí)別，適用于對(duì)樣品內(nèi)部細(xì)微結(jié)構(gòu)的研究和分析。

掃描電鏡和透射電鏡在科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。掃描電鏡主要用于材料科學(xué)、生物科學(xué)、能源材料、微電子器件等領(lǐng)域。它可以觀察到樣品表面的形貌特征，如紋理、顆粒分布等信息，對(duì)于材料的表面形態(tài)分析和納米材料性質(zhì)研究有重要作用。透射電鏡則廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物科學(xué)以及半導(dǎo)體和納米器件制備等領(lǐng)域。通過對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的觀察和分析，可以獲得更詳細(xì)的原子級(jí)別信息，對(duì)于材料的晶體結(jié)構(gòu)研究和納米材料性能表征非常重要。

掃描電鏡和透射電鏡是兩種常用的電子顯微鏡，它們基于不同的成像原理，分別適用于樣品表面形貌和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的觀察。對(duì)于不同領(lǐng)域的研究和應(yīng)用需求，科學(xué)家和工程師可以選擇合適的電鏡技術(shù)來(lái)獲取所需的信息。