隨著科學技術的不斷發(fā)展，越來越多的領域，特別是材料領域需要精確了解各種材料的微觀 形貌和組織結構，采用掃描電鏡對其進行表征具有重要意義。

采用SEM掃描電鏡觀測樣品涉及3方面的因素:

1）掃描電鏡本身分辨率的高低，分辨率越高，觀測到樣品的微觀組織形貌就越清楚。

2）放大倍數(shù)與粉末顆粒的尺寸要匹配。對于顆粒尺寸較小的樣品，需放大上千乃至上萬倍才能清晰的觀測出微觀組織，但是對于尺寸較大的樣品只需放大很小的倍數(shù)就可以了。

3）樣品的制備也至關重要，它直接影響到拍攝照片的清晰度。

粉末的顆粒形狀、顆粒大小及組成、顆粒表面的微觀形貌組織、內部結構等粉末特性是重要的物理性能"。在生產(chǎn)中，一般只測定粉末顆粒的大小及百分比組成，Z常用的方法有篩分法、顯微鏡法、氣體透過法、氣體吸附法、X射線衍射法和SEM掃描電鏡法等，其中掃描電鏡法對研究粉末的各種復雜結構與性能具有獨特的優(yōu)勢和特點，尤其是在觀測樣品的顆粒形狀、顆粒大小和顆粒表面的微觀形貌時,既方便又直觀。但是，粉末所具有的特性有時嚴重影響顆粒的觀察和測量。對于超細粒子的材料來說，由于其具有較大的吉布斯自由能，粒子之間有較強的自發(fā)聚集趨勢，很容易形成團聚，嚴重影響顆粒的觀測。因此，利用SEM掃描電鏡研究粉末的很重要一步在于制備出既沒有顆粒團聚、又有一定密度，圖像清晰的樣品。

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